Wyślij wiadomość
Obsługiwanych jest do 5 plików, każdy o rozmiarze 10 MB. dobrze
ZEIT Group 86-28-62156220-810 hua.du@zeit-group.com
Uzyskaj wycenę
描述
English French German Italian Russian Spanish Portuguese Dutch Greek Japanese Korean Arabic Hindi Indonesian Vietnamese Persian Polish
描述

Sprzęt do testowania optycznego

Uzyskaj wycenę
jakość Sprzęt do testowania optycznego Usługa
Dom - Kategorie - Sprzęt do testowania optycznego
Kategorie

Sprzęt do powlekania optycznego

Sprzęt do testowania optycznego

Podłoże fotomaski

System pomiaru dwójłomności

Elementy optyczne

Sprzęt do osadzania warstw atomowych

Maszyna do napylania magnetronowego

Sprzęt do wykrywania wad powierzchni

Magnetoreologiczna maszyna do wykańczania

Sprzęt do kontroli płaskości

Sprzęt do kontroli powierzchni

Wyposażenie niestandardowe

Zautomatyzowane rozwiązania linii produkcyjnych

System interferometru laserowego

Cyfrowy autokolimator

Obiektyw interferometru

Zostaw wiadomość

Całkowity 1 Strony
Najnowsze produkty

Nasze produkty sprzedawane są na całym świecie. Możesz być spokojny o cały proces naszych produktów.

  • Chiny System pomiaru dwójłomności natężenia naprężenia Optyczny sprzęt testujący w czasie rzeczywistym

    System pomiaru dwójłomności natężenia naprężenia Optyczny sprzęt testujący w czasie rzeczywistym

  • Chiny Zadrapania Pyły Sprzęt do testowania optycznego Detektor powierzchni półprzewodników 1,8 μM

    Zadrapania Pyły Sprzęt do testowania optycznego Detektor powierzchni półprzewodników 1,8 μM

  • Chiny Sprzęt do testowania optycznego ZEIT Lampa Odbłyśnik Kształt Płaskość płytki Wykrywanie defektów powierzchni

    Sprzęt do testowania optycznego ZEIT Lampa Odbłyśnik Kształt Płaskość płytki Wykrywanie defektów powierzchni

  • Chiny Długość fali roboczej 633 Nm Optyczny sprzęt testujący Tester płaskości

    Długość fali roboczej 633 Nm Optyczny sprzęt testujący Tester płaskości

  • Chiny Rozkład naprężeń w czasie rzeczywistym Rozkład naprężeń Sprzęt do wykrywania dwójłomności

    Rozkład naprężeń w czasie rzeczywistym Rozkład naprężeń Sprzęt do wykrywania dwójłomności

  • Chiny VIS 520nm 590nm 650nm Wyposażenie systemu pomiaru dwójłomności

    VIS 520nm 590nm 650nm Wyposażenie systemu pomiaru dwójłomności

  • Chiny Zadrapania Pyły Sprzęt do wykrywania powierzchni półprzewodników Rozdzielczość 1,8 μM

    Zadrapania Pyły Sprzęt do wykrywania powierzchni półprzewodników Rozdzielczość 1,8 μM

  • Chiny Półprzewodnikowe systemy wykrywania powierzchni Optyczny sprzęt testujący 40x

    Półprzewodnikowe systemy wykrywania powierzchni Optyczny sprzęt testujący 40x