ZEIT Group
86-28-62156220-810
hua.du@zeit-group.com
Uzyskaj wycenę
描述
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Arabic
Hindi
Indonesian
Vietnamese
Persian
Polish
描述
Dom
Kategorie
Sprzęt do powlekania optycznego
Sprzęt do testowania optycznego
Podłoże fotomaski
System pomiaru dwójłomności
Elementy optyczne
Sprzęt do osadzania warstw atomowych
Maszyna do napylania magnetronowego
Sprzęt do wykrywania wad powierzchni
Magnetoreologiczna maszyna do wykańczania
Sprzęt do kontroli płaskości
Sprzęt do kontroli powierzchni
Wyposażenie niestandardowe
Zautomatyzowane rozwiązania linii produkcyjnych
System interferometru laserowego
Cyfrowy autokolimator
Obiektyw interferometru
Produkty
resources
Aktualności
O nas
profil firmy
Wycieczka po fabryce
Kontrola jakości
Skontaktuj się z nami
Wynik wyszukiwania (7)
Dom
-
Produkty
-
mask substrate surface defect detection producent online
Zadrapania Maska przeciwpyłowa Podłoże Sprzęt do wykrywania defektów powierzchni OEM
Sprzęt do wykrywania wad powierzchni podłoża szklanego 1,8um
OEM X Y Dwuosiowy sprzęt do wykrywania defektów powierzchniowych w przemyśle półprzewodnikowym
Zadrapania Kontrola pyłów Sprzęt do wykrywania wad powierzchniowych w przemyśle układów scalonych IC
Zadrapania Pyły Sprzęt do wykrywania powierzchni półprzewodników Rozdzielczość 1,8 μM
Półprzewodnikowe systemy wykrywania powierzchni Optyczny sprzęt testujący 40x
Zadrapania Pyły Sprzęt do testowania optycznego Detektor powierzchni półprzewodników 1,8 μM
Całkowity 1 Strony
